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外径测量系统

外径测量系统
外径测量系统

  • 产品名称: 外径测量系统
  • 所属品牌: DIATEST DIATEST
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BMD塞规式高精度外径测量比较仪
BMD塞规式高精度外径测量比较仪

 结构特点

积木式结构,随意组合

适用于生产现场的自动及手动测量

精确的测量轴径及轴的形状误差

最大限度地减少人为因素对测量

结果的影响

满足100万次以上测量

技术参数

测量范围:外径Ø20-Ø100mm

测量深度:约12mm

测量精度:≤1μm

线性误差:≤1%




ABM外径测量比较仪

ABM外径测量比较仪 ABM外径测量比较仪

 


结构及技术参数

自动定心

测量支柱可调

测量范围:5mm-25mm

重复精度:≤0.001mm

测量方法:用标准轴比较测量

 

 

 

ODV外径测量比较仪

 

ODV外径测量比较仪

 

 

型号

测量范围

ODV12-19

12-19mm

ODV18-25

18-25mm

ODV25-32

25-32mm

ODV32-38

32-38mm

ODV38-45

38-45mm

ODV45-51

45-51mm

ODV51-57

51-57mm

ODV57-64

  57-64mm

ODV64-70

64-70mm

ODV70-76

70-76mm

ODV76-82

76-82mm

 

 结构及技术参数

测头材料:金属陶瓷

测量范围:12mm-82mm

重复精度:≤0.001mm

测量方法:比较测量